超細(xì)粉體的表面改性是超細(xì)粉體制備、加工和應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù)之一。粉體表面改性可以增加粉體的穩(wěn)定性，提高表面活性，分散顆粒團聚，改善納米效應(yīng)等，對提高粉體材料的應(yīng)用性能和價值起著至關(guān)重要的作用。近年來，以表面改性配方、工藝和設(shè)備為代表的粉體表面改性技術(shù)取得重大進展，與工業(yè)發(fā)達國家的差距進一步縮小。但在實際生產(chǎn)中，受限于對材料原理和檢測方法的了解，該領(lǐng)域還有很大的提升空間。如何更準(zhǔn)確地表征粉體，全面了解粉體改性技術(shù)的全貌，是整個行業(yè)長期以來一直關(guān)注的重點課題。

   為此，第六屆全國粉末檢測與表面改性技術(shù)交流會在珠海舉行。會議邀請了該領(lǐng)域的專家學(xué)者、企業(yè)家、研究人員等眾多知名從業(yè)者展示他們對粉末材料的研究現(xiàn)狀，討論相關(guān)技術(shù)問題，尋找新的發(fā)展機會。

   作為該領(lǐng)域的主要參與者之一，丹東百特連續(xù)六次參加本次會議，并受邀與業(yè)界分享我們的專業(yè)知識。百特高級應(yīng)用工程師郭志斌在會議上分享了關(guān)于納米粉體粒徑和zeta電位的表征方法及其應(yīng)用，以及顆粒表征如何提高粉體穩(wěn)定性、提高表面活性、分散顆粒團聚和改善納米效應(yīng)等。

   此次，百特攜BeNano系列納米粒度與zeta電位分析儀和BT-310系列振實密度測試儀亮相大會，為粉末材料表征提供最新解決方案，助力行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展。

   BeNano納米粒度與zeta電位分析儀可以提供DLS背向散射（173°）納米顆粒檢測技術(shù)，可以在高達40%的寬濃度范圍內(nèi)測量最小樣品體積為3μL的樣品，并且測試最小顆粒可以到達0.3nm，同時通過毛細(xì)管樣品池可以節(jié)省寶貴的珍貴樣品測試量。值得一提的是，BeNano所有型號都可以通過可編程溫度控制系統(tǒng)快速精確地進行不同溫度下的測試，更有將樣品中雜質(zhì)干擾降至最低的智能結(jié)果評估算法。

▲ BeNano系列納米粒度與Zeta電位分析儀

   BT-310系列振實密度測試儀是百特最新研發(fā)成果。百特團隊在對國家標(biāo)準(zhǔn)、ASTM國際標(biāo)準(zhǔn)、ISO國際標(biāo)準(zhǔn)進行深入研究的基礎(chǔ)上，通過考察實驗室人員的實際需求，打造出真正滿足各種需求的振實密度測試設(shè)備。

▲ BT-310系列振實密度儀

   作為深耕粉體行業(yè)粒度檢測多年的檢測與技術(shù)應(yīng)用專家，百特將付出更多努力，不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量，提升服務(wù)水平，為粉體行業(yè)提供更加專業(yè)的顆粒測試解決方案。