BeNano 180 納米粒度分析儀
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理,樣品分散在樣品池中,通過(guò)激光照射到樣品上,光電檢測(cè)器在背向 173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng),再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線,結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù),進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)
原理 | 動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
樣品 | 40 μL – 1 mL |
檢測(cè)角度 | 173 |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
分子量測(cè)試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
粘度和折光率測(cè)試
粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢(shì)測(cè)試
時(shí)間和溫度 |
|
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15°C - 110°C,精度±0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm |
相關(guān)器 | 最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
檢測(cè)器 | APD (高性能雪崩光電二極管) |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng) |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測(cè)參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測(cè)技術(shù)
●動(dòng)態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
相關(guān)技術(shù)
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