BeNano Zeta 電位分析儀
產(chǎn)品介紹
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個(gè)電場(chǎng)，通過激光照射到電場(chǎng)中的樣品上，光電檢測(cè)器在 12°角檢測(cè)樣品顆粒電泳運(yùn)動(dòng)造成的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。
基本性能指標(biāo)
Zata電位測(cè)試
| 原理 | 相位分析光散射技術(shù) |
檢測(cè)角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實(shí)際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0-260 mS/cm |
Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm |
樣品量 | 0.75 mL – 1.0 mL |
趨勢(shì)測(cè)試
| 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15℃-110℃，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關(guān)器 | 最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測(cè)參數(shù)
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
檢測(cè)技術(shù)
●電泳光散射
●相位分析光散射
選配件
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
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